- Tytuł:
-
Problemy metrologiczne związane z wyznaczaniem koncentracji centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych o szerokiej przerwie energetycznej
Metrological issues related to estimation of defect center concentration in high-resistivity wide bandgap semiconductors - Autorzy:
-
Miczuga, M.
Kamiński, P.
Kozłowski, P.
Kopczyński, K. - Data publikacji:
- 2011
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Tematy:
-
centra defektowe
emisja termiczna
HRPITS
SI GaP
defect centers
thermal emission - Źródło:
-
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 11, 11; 1368-1371
0032-4140 - Język:
- polski
- Prawa:
- CC BY: Creative Commons Uznanie autorstwa 3.0 Unported
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
- Artykuł