- Tytuł:
- Influence of Dislocation Interactions with Impurities on their Topographical Images in Silicon Crystals
- Autorzy:
-
Auleytner, J.
Skorokhod, M. Ya.
Datsenko, L. I.
Khrupa, V. I. - Data publikacji:
- 1996-09
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
61.10.-i
61.72.Cc
61.72.Ff
81.40.Cd - Źródło:
-
Acta Physica Polonica A; 1996, 90, 3; 541-546
0587-4246
1898-794X - Język:
- angielski
- Prawa:
- Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
- Artykuł