Integral Structure Perfection Diagnostics of Single Crystals Using Two Wavelengths of X-Ray Spectrum

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Integral Structure Perfection Diagnostics of Single Crystals Using Two Wavelengths of X-Ray Spectrum
Autorzy:: Datsenko, L.
Krasulya, S.
Machulin, V.
Auleytner, J.
Khrupa, V.
Data publikacji:: 1997-05
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 81.40.-z
61.10.-i
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 1997, 91, 5; 935-938
0587-4246
1898-794X
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

A new approach to determination of microdefect structure parameters by means of single crystal diffractometer is proposed. The approach is based on the measurements of the integral reflectivity of a sample for two selected X-ray wavelengths providing with the approximations of thin and thick crystal, respectively.

Informacja

Integral Structure Perfection Diagnostics of Single Crystals Using Two Wavelengths of X-Ray Spectrum

Powiązane pozycje