Application of Genetic Algorithm to Determine Thermal Properties of Microelectronic Layered Structures

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Application of Genetic Algorithm to Determine Thermal Properties of Microelectronic Layered Structures
Autorzy:: Arsoba, R.
Suszyński, Z.
Data publikacji:: 2008
Wydawca:: Uniwersytet Przyrodniczo-Humanistyczny w Siedlcach
Tematy:: genetic algorithm
inverse problem
microelectronics
thermal properties
layered structure
Źródło:: Studia Informatica : systems and information technology; 2008, 1(10); 15-26
1731-2264
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

In the paper, possibilities of application of genetic algorithms to determine thermal properties depth profile in microelectronic layered structures were presented. A developed computational method was described and results obtained using the method for a thyristor structure were presented.

Informacja

Application of Genetic Algorithm to Determine Thermal Properties of Microelectronic Layered Structures

Powiązane pozycje