- Tytuł:
- X-Ray Photoelectron Spectroscopy and Optical Reflectivity Studies of Si Surfaces Prepared by Chemical Etching
- Autorzy:
-
Iwanowski, R. J.
Sobczak, J. W.
Kowalski, B. J. - Data publikacji:
- 1994-11
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
79.60.Bm
78.40.Fy - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł