- Tytuł:
- Defect Structure of Pressure Treated Czochralski Grown Silicon Investigated by X-Ray Topography and Diffractometry
- Autorzy:
-
Misiuk, A.
Härtwig, J.
Prieur, E.
Ohler, M.
Bąk-Misiuk, J.
Domagała, J.
Surma, B. - Data publikacji:
- 1997-05
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
61.72.Yx
81.40.Vw
61.10.-i - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł