- Tytuł:
-
Ocena wpływu zewnętrznych pól magnetycznych i elektromagnetycznych na działanie skaningowego mikroskopu elektronowego
Estimation of external magnetic and electromagnetic fields influence on Scanning Electron Microscope operation - Autorzy:
-
Płuska, M.
Oskwarek, Ł. - Data publikacji:
- 2007
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Tematy:
-
mikroskopia elektronowa
skaningowy mikroskop elektronowy
zakłócenia elektromagnetyczne
indukcja magnetyczna
scanning electron microscopy (SEM)
electromagnetic distortions
magnetic induction - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł