Scanning Ellipsometer Using a Fixed Phase Retarder and Rotating Polarizer and Analyzer

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Scanning Ellipsometer Using a Fixed Phase Retarder and Rotating Polarizer and Analyzer
Autorzy:: Taya, S.
El-Agez, T.
Data publikacji:: 2013-02
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 07.60.Fs
02.30.Nw
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 2013, 123, 2; 183-184
0587-4246
1898-794X
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

A spectroscopic rotating polarizer-analyzer ellipsometer in which the polarizer and the analyzer rotate in opposite directions at the same speed and with a fixed retarder is proposed and investigated theoretically. The fixed phase retarder is introduced after the rotating polarizer to significantly reduce the percent error in the optical parameters.

Informacja

Scanning Ellipsometer Using a Fixed Phase Retarder and Rotating Polarizer and Analyzer

Powiązane pozycje