Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Swift ion beams for solid state and materials science

Tytuł:
Swift ion beams for solid state and materials science
Autorzy:
Denker, A.
Bohne, W.
Heese, J.
Homeyer, H.
Kluge, H.
Lindner, S.
Opitz-Coutureau, J.
Röhrich, J.
Strub, E.
Data publikacji:
2003
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
tumour therapy
materials modification
materials analysis
single event effects
technical applications
cyclotrons
Źródło:
Nukleonika; 2003, 48,suppl.2; 175-180
0029-5922
1508-5791
Język:
angielski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Ion beams are unique tools in modern science and technology. They are used for the analysis and modification of materials and are applied in medicine and technology. In cancer therapy fast protons allow a precise tailoring of the radiation field to the tumour, thus maximising the tumour control probability and simultaneously reducing the risk of side effects. Modification of the structure of solids by ion irradiation results in local structures on nano-scale, e.g. high-tech filters having defined pore numbers and pore sizes are produced by high-energy heavy ion irradiation with consecutive etching. Electronic devices utilised in areas with high radiation level have to be tested for their radiation hardness. The devices are irradiated with accelerated ions to receive the same dose by high-energy ions as expected during their lifetime. For materials sciences the analysis of composition and structure of solids is of uppermost importance. Complex layered structures are analysed by ERDA (Elastic Recoil Detection Analysis). Investigation of art and archaeological objects has to be non-destructive. PIXE (Proton Induced X-ray Emission) allows elemental analysis without sampling of the object. Different applications of high energy ions will be presented.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Prześlij opinię

Twoje opinie są dla nas bardzo ważne i mogą być niezwykle pomocne w pokazaniu nam, gdzie możemy dokonać ulepszeń. Bylibyśmy bardzo wdzięczni za poświęcenie kilku chwil na wypełnienie krótkiego formularza.

Formularz