Korekcja funkcji przetwarzania czujnika stosowanego w tomografii pojemnościowej

Tomografia procesowa coraz częściej znajduje zastosowanie w badaniach eksperymentalnych różnych procesów przemysłowych. Jednym z rozwiązań jest tomograf pojemnościowy. Niejednokrotnie jest on wykorzystywany do badania przepływów dwufazowych. Początkowo tomografy były stosowane do wyznaczania obrazu struktury przepływu. Obecnie tomograf może być przyrządem pomiarowym który poza wyświetleniem obrazu struktury może wyznaczyć podstawowe parametry opisujące proces. Aby było możliwe dokonanie pomiarów konieczne jest odpowiednie wzorco-wanie urządzenia. Na wynik pomiaru ma wpływ szereg pojemności, pochodzących od elementów znajdujących się w bezpośrednim sąsiedztwie elektrod pomiarowych. Ze względu na budowę tomografu pewne błędy są nieuniknione. W celu zredukowania ich wpływu zaproponowano metodę korekcji funkcji przetwarzania dla typowego czujnika tomografu pojemnościowego. W pracy przedstawiono podstawy teoretyczne i wyniki badań eksperymentalnych. Niniejsze opracowanie może mieć również zastosowanie w innych urządzeniach pomiarowych, których zasada działania oparta jest na pomiarze małych zmian pojemności.

Processing tomography is more and more often applied to tests of various industrial processes. The capacitance tomograph is one of measuring systems often used for tests of two-phase flows. Tomographs were previously used for determination of the flow structure images. At present they can be measuring devices which not only express the structure image but can be used for calculations of the basic parameters describing the process. In order to take measurements, it is necessary to calibrate the tomograph. Capacitances of elements being close to the measurement electrodes influence the measurement results. Some errors cannot be avoided. Thus, the correction method was proposed for measurements with the capacitance tomograph. The paper presents the theoretical basis and the test results obtained with this method. This method can also be used in other measuring devices for measurements of small capacitance changes.