Algorytm generowania testu dla układów cyfrowych o nieznanej strukturze wewnętrznej

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Algorytm generowania testu dla układów cyfrowych o nieznanej strukturze wewnętrznej
Autorzy:: Arciuch, A.
Data publikacji:: 2001
Wydawca:: Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
Tematy:: metoda do generowania testu
algorytm generowania testu
Źródło:: Biuletyn Instytutu Automatyki i Robotyki; 2001, R. 7, nr 16, 16; 35-49
1427-3578
Język:: polski
Prawa:: CC BY-NC-ND: Creative Commons Uznanie autorstwa - Użycie niekomercyjne - Bez utworów zależnych 3.0 PL
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

W artykule przedstawiono metodę i algorytm do generowania testów dla układów cyfrowych o nieznanej strukturze wewnętrznej. Cechą charakterystyczną zaproponowanego algorytmu jest skrócenie sekwencji testowej bez pogorszenia jakości testowania. Test otrzymany w wyniku działania algorytmu jest nieredukowalnym testem kontrolnym.

Informacja

Algorytm generowania testu dla układów cyfrowych o nieznanej strukturze wewnętrznej

Powiązane pozycje