Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Analiza składu chemicznego i fazowego cienkich warstw metalicznych

Tytuł:
Analiza składu chemicznego i fazowego cienkich warstw metalicznych
Autorzy:
Lukaszkowicz, K.
Staszuk, M.
Nuckowski, P.
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Roble
Tematy:
dyfraktometria rentgenowska
XPS
spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
GDS/GDOES
emisyjna spektroskopia optyczna z wyładowaniem jarzeniowym
cienkie warstwy metaliczne
X-ray diffractometry
x-ray photoelectron spectroscopy
glow discharge optical emission spectrometry
metallic thin layers
Źródło:
LAB Laboratoria, Aparatura, Badania; 2017, 22, 5; 24-29
1427-5619
Język:
polski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Prześlij opinię

Twoje opinie są dla nas bardzo ważne i mogą być niezwykle pomocne w pokazaniu nam, gdzie możemy dokonać ulepszeń. Bylibyśmy bardzo wdzięczni za poświęcenie kilku chwil na wypełnienie krótkiego formularza.

Formularz