- Tytuł:
- Photoelectronic measurement methods and the universal measurement system for precise parameter determination of semiconductor structures
- Autorzy:
-
Machalica, P.
Porębski, S.
Zając, J.
Borowicz, L.
Kudła, A.
Przewłocki, H. M. - Data publikacji:
- 2002
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Elektronowej
- Źródło:
-
Electron Technology : Internet Journal; 2001-2002, 34, 5; 1-7
1897-2381 - Język:
- angielski
- Prawa:
- Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
- Artykuł