- Tytuł:
- An integrated approach to estimate storage reliability with masked data from series system
- Autorzy:
-
Zhang, Yongjin
Zhao, Ming - Data publikacji:
- 2023
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
- Tematy:
-
storage reliability
masked data
EM-LS algorithm
series system
LS method - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł