- Tytuł:
-
Przyspieszone badania degradacji przy stałym naprężeniu w analizie diod superelektroluminescencyjnych i wrażliwości parametrycznej
Constant stress adt for superluminescent diode and parameter sensitivity analysis - Autorzy:
-
Li, X.
Jiang, T.
Sun, F.
Ma, J. - Data publikacji:
- 2010
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
- Tematy:
-
analiza wrażliwościowa
ruchy Browna
obniżenie charakterystyk
badania przyspieszone
SLD
sensitivity analysis
Brownian motion
performance degradation
accelerated testing - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł