- Tytuł:
- TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology
- Autorzy:
-
Barański, M.
Domański, K.
Grabiec, P.
Grodner, M.
Jaroszewicz, B.
Kociubiński, A.
Kucewicz, W.
Kucharski, K.
Marczewski, J.
Niemiec, H.
Sapor, M.
Tomaszewski, D. - Data publikacji:
- 2005
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Tematy:
-
SOI CMOS technology
pixel detector
test structure - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł