- Tytuł:
- Electrical characterization of ISFETs
- Autorzy:
-
Tomaszewski, D.
Yang, C. M.
Jaroszewicz, B.
Zaborowski, M.
Grabiec, P.
Pijanowska, D. - Data publikacji:
- 2007
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Tematy:
-
ISFET
CMOS
electrical measurements
I-V characteristics
characterization
parameters extraction - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł