- Tytuł:
- Noise Effect on Thin Film Characterization Using Rotating Polarizer Analyzer Ellipsometer
- Autorzy:
-
El-Agez, T.
Taya, S. - Data publikacji:
- 2012-07
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
07.60.Fs
78.66.Bz
78.20.Ci - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł