- Tytuł:
-
Bayesowski model wzrostu niezawodności oparty na dynamicznych parametrach rozkładu
Bayesian reliability growth model based on dynamic distribution parameters - Autorzy:
-
Tao, Y.
Zhang, Y. A.
Chen, X.
Ming, M. - Data publikacji:
- 2010
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
- Tematy:
-
statystyka populacji niejednorodnej
model monotoniczny
Bayes
model przyrostu niezawodności
rozkład wykładniczy
non-homo geneous population statistics
monotone model
reliability growth model
exponential distribution - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł