- Tytuł:
- Relative Reflection Difference as a Method for Measuring the Thickness of the Exfoliated MoSe₂ Layers
- Autorzy:
-
Łempicka, K.
Norowski, K.
Grzeszczyk, M.
Król, M.
Lekenta, K.
Babiński, A.
Piętka, B.
Szczytko, J. - Data publikacji:
- 2017-08
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
63.20.dd
78.20.Ci
78.30.-j
78.66.Li - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł