- Tytuł:
- Distribution of potential barrier height local values at Al-SiO₂ and Si-SiO₂ interfaces of the metal-oxide-semiconductor (MOS) structures
- Autorzy:
-
Piskorski, K.
Przewlocki, H. M. - Data publikacji:
- 2004
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Elektronowej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł