- Tytuł:
- Soft X-Ray Spectromicroscopy and its Application to Semiconductor Microstructure Characterization
- Autorzy:
-
Gozzo, F.
Franck, K.
Howells, M. R.
Hussain, Z.
Warwick, A.
Padmore, H. A.
Triplett, B. B. - Data publikacji:
- 1997-04
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
61.16.-d
85.40.-e
79.60.-i - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł