- Tytuł:
-
Mikroskopia sił atomowych jako narzędzie do oceny jakości powierzchni soczewek kontaktowych
Atom force microscopy as a tool for the evaluation of the quality of contact lenses surface - Autorzy:
- Tomaszewska, A.
- Data publikacji:
- 2016
- Wydawca:
- Uniwersytet Humanistyczno-Przyrodniczy im. Jana Długosza w Częstochowie. Wydawnictwo Uczelniane
- Tematy:
-
soczewki kontaktowe
AFM
komfort
bezpieczeństwo
contact lenses
comfort
safety - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł