- Tytuł:
- X-Ray Structure Perfection Diagnostics of Slightly Distorted Silicon Crystals in the Bragg Case of Diffraction
- Autorzy:
-
Khrupa, V.
Krasulya, S.
Machulin, V.
Datsenko, L.
Auleytner, J. - Data publikacji:
- 1997-05
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
61.66.Bi
81.40.-z - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł