- Tytuł:
- On-wafer wideband characterization: a powerful tool for improving the IC technologies
- Autorzy:
-
Lederer, D.
Raskin, J. P. - Data publikacji:
- 2007
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Tematy:
-
silicon-on-insulator (SOI)
MOSFET
wideband characterization
microwave frequency
extraction techniques
small-signal equivalent circuit - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł