- Tytuł:
-
Ocena dokładności firmowego makromodelu tranzystora SiC-JFET
Evaluation of accuracy of SiC-JFET macromodel - Autorzy:
-
Bargieł, K.
Bisewski, D. - Data publikacji:
- 2018
- Wydawca:
- Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
- Tematy:
-
JFET
makromodel
węglik krzemu - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł