- Tytuł:
-
Measurement of the temperature inside standard integrated circuits
Pomiar temperatury wewnątrz standardowych układów scalonych - Autorzy:
-
Frankiewicz, M.
Kos, A. - Data publikacji:
- 2011
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
- Tematy:
-
pomiar temperatury
ESD
układ scalony
temperature sensing
integrated circuits - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł