- Tytuł:
- Low frequency noise in Si and Si/SiGe/Si PMOSFETs
- Autorzy:
-
Thomas, S. M.
Prest, M. J.
Fulgoni, D. J. F.
Bacon, A. R.
Grasby, T. J.
Leadley, D. R.
Parker, E. H. C.
Whall, T. E. - Data publikacji:
- 2007
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Tematy:
-
electronic noise
silicon-germanium heterostructures
MOSFET
dynamic threshold mode - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł