Autor: Mueller, R. - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Interaction of point defects in piezoelectric materials - numerical simulation in the context of electric fatigue
Oddziaływanie defektów punktowych w materiałach piezoelektrycznych - symulacje numeryczne w kontekście zmęczenia elektrycznego
Autorzy:: Goy, O.
Mueller, R.
Gross, D.
Data publikacji:: 2006
Wydawca:: Polskie Towarzystwo Mechaniki Teoretycznej i Stosowanej
Tematy:: materiały piezoelektryczne
defekty punktowe
zmęczenie elektryczne
materiały funkcjonalne
functional materials
piezoelectricity
electric fatigue
point defect
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Modelling of damage evolution in adhesive metal-composite structures for various joint designs
Modelowanie ewolucji uszkodzenia w adhezyjnych układach metal-kompozyt dla różnej geometrii połączenia
Autorzy:: Konchakova, N.
Mueller, R.
Barth, F. J.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydawnictwo AGH
Tematy:: uszkodzenie
analiza MES
lepkosprężystość
model uszkodzenia typu Lemaitre'a
połączenie metal-kompozyt
damage
finite element analysis
viscoelasticity
Lemaitre-type damage
metal-composite joint
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Gas-Insulated Self-Breakdown Spark Gaps: Aspects on Low-Scattering and Long-Lifetime Switching
Autorzy:: Frey, W.
Sack, M.
Wuestner, R.
Mueller, G.
Data publikacji:: 2009-06
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 52.75.Kq
52.80.Mg
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Automated root cause analysis of non-conformities with machine learning algorithms
Autorzy:: Mueller, T.
Greipel, J.
Weber, T.
Schmitt, R. H.
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Wrocławska Rada Federacji Stowarzyszeń Naukowo-Technicznych
Tematy:: root cause analysis
machine learning
decision tree
simulation
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: The Impact of Noise and Mismatch on SAR ADCs and a Calibratable Capacitance Array Based Approach for High Resolutions
Autorzy:: Mueller, J. H.
Strache, S.
Busch, L.
Wunderlich, R.
Heinen, S.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog-digital conversion
analog-digital integrated circuits
calibration
CMOS integrated circuits
mathematical model
MATLAB
mixed analog digital integrated circuits
noise
numerical simulation
prediction methods
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Informacja