Autor: Oskwarek, Ł. - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Zastosowanie zagadnienia odwrotnego EEG do oceny aktywności elektrycznej kory mózgowej na użytek interfejsu BCI
Application of EEG inverse problem to evaluation of electrical activity of the cerebral cortex for the use of Brain-Computer Inter-face
Autorzy:: Oskwarek, Ł.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: elektroencefalografia
aktywność mózgu
zagadnienie odwrotne EEG
interfejs mózg-komputer (BCI)
electroencephalography
brain activity
EEG inverse problem
Brain-Computer Interface (BCI)
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Wpływ redukcji liczby elektrod w systemie BCI na ocenę aktywności elektrycznej mózgu
The impact of reducing the number of electrodes in the BCI system on evaluation of the brain electrical activity
Autorzy:: Oskwarek, Ł.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: interfejs mózg-komputer
BCI
elektroencefalografia
EEG
aktywność mózgu
zagadnienie odwrotne EEG
Brain-Computer Interface
electroencephalography
brain activity
EEG inverse problem
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Przykłady zastosowań metod planowania i oceny eksperymentu w tomografii impedancyjnej i mikroskopii elektronowej
Selected applications of experiment planning and evaluation in the area of impedance tomography and electron microscopy
Autorzy:: Oskwarek, Ł.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: planowanie i ocena eksperymentu
hipotezy statystyczne
istotność wpływu czynnika
równanie regresji
experiment planning and evaluation
statistical hypotheses
significance of the impact factor
regression equation
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Ocena wpływu zewnętrznych pól magnetycznych i elektromagnetycznych na działanie skaningowego mikroskopu elektronowego
Estimation of external magnetic and electromagnetic fields influence on Scanning Electron Microscope operation
Autorzy:: Płuska, M.
Oskwarek, Ł.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: mikroskopia elektronowa
skaningowy mikroskop elektronowy
zakłócenia elektromagnetyczne
indukcja magnetyczna
scanning electron microscopy (SEM)
electromagnetic distortions
magnetic induction
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Informacja