- Tytuł:
- Scanning acoustic microscopy for non-destructive tests of electronic components
- Autorzy:
-
Sutor, A.
Winkler, G.
Bischoff, G. - Data publikacji:
- 2006
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Elektronowej
- Tematy:
-
scanning acoustic microscopy
printed circuit boards
thick film
thin layers
microelectronic packages - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł