- Tytuł:
-
Zmodyfikowany model prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych
A modified model of electronic device reliability prediction - Autorzy:
-
Zeng, S.
Sun, B.
Tong, Ch. - Data publikacji:
- 2009
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
- Tematy:
-
prognozowanie niezawodności
modyfikacja modelu
fizyka uszkodzeń
urządzenie elektroniczne
test K-S
testy cenzurowania losowego
reliability prediction
model modification
physics of failure
electronic device
K-S test
random censored tests - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł