- Tytuł:
- Semi-automatic test system for characterization of ASIC/MPWS
- Autorzy:
-
Zając, J.
Wójcik, J.
Kociubiński, A.
Tomaszewski, D. - Data publikacji:
- 2005
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Tematy:
-
automatic testing
diagnostics of technology
multi-project wafers - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł