- Tytuł:
- Variability of the local phi MS values over the gate area of MOS devices
- Autorzy:
-
Przewłocki, H. M.
Kudła, A.
Brzezińska, D.
Massoud, H. Z. - Data publikacji:
- 2005
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Tematy:
-
MOS structure
photoelectric measurements
electrical parameters
mechanical stress - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł